1.開発段階で試作品の各方面の欠陥を暴露し、製品の信頼性が所定の指標に達したことを評価する。

2.生産段階は生産過程を監視するために情報を提供する、

3.定型製品に対して信頼性鑑定または検収を行う、

4.異なる環境と応力条件下での製品の故障規則及び関連する故障モードと故障メカニズムを暴露し分析する、

5.製品の信頼性を改善し、信頼性試験案を制定し、改善し、ユーザーが製品を選択するために根拠を提供する。

基準を満たす：GB 19510.1-2009 / IEC 61347-1:2007ふろくDの要件を満たすことができます。

D.1しけんばこ

加熱試験は、周囲温度が所定温度に保たれた試験箱内で行う（図D.1参照）。試験箱全体は厚さ25 mmの耐熱材料で作られている。試験箱の内部寸法は610 mmx 610 mmx 610 mmであり、その試験仕切りの寸法は560 mmx 560 mmであり、仕切りの周囲に25 mmの隙間を残して熱空気の流通に用いることができ、仕切りの下方にヒーターのために75 mmの隙間を残して加熱素子を取り付けるべきである。試験箱は片面が移動可能であるが、その構造は箱体に強固に固定されるべきである。試験箱の一方の面には150 mmの正方形開口があり、その位置は箱体の底縁の真ん中にある。試験箱の構造は、この開口を唯一空気を流通できる場所にすべきである。この開口部は図D.1に示すアルミニウムカバーで覆わなければならない。

D.2試験箱の加熱

上記のように試験箱に用いた加熱源は、4つのパワー300 wのストライプヒータからなり、各ヒータの加熱表面サイズは約40 mmx 300 mmである。これらの加熱素子は電源と並列に接続されている必要があります。これらは試験箱の仕切り板と底面の間の75 mm加熱室の中間位置に設置され、各ヒータの外縁と隣接する試験箱の内壁とは65 mm離れた正方形に配列されなければならない。これらのヒータは適切なサーモスタットによって制御されるべきである。

D.3ランプの制御装置の動作条件

試験期間中、電源回路の周波数はランプの制御装置の定格周波数に等しく、電源回路の電圧はランプの制御装置の定格電源電圧に等しく、試験箱内の温度は試験期間中に保持しなければならない、試験の前に、ランプの制御装置（通電しない）を試験箱に十分な時間放置し、すべての部品が箱内温度に達するようにしなければならない。試験終了時の箱内の温度と試験開始時の温度が一致しない場合は、ランプの制御装置の部品の温度上昇を特定する際にこの温度差を考慮すべきである。ランプの制御装置は、専用のランプの仕様と数量要件を満たす必要があります。ランプは試験箱の外に取り付けなければならない。

D.4試験箱におけるランプの制御装置の位置

試験期間中、2枚の75 mmの木でランプの制御装置を支持し、試験仕切り板から75 mm離れ、正常な動作位置にし、ランプの制御装置は試験箱の中心に位置しなければならない。電気接続線は、図D.1に示す150 mm正方形開口を介して試験箱から引き出すことができる。試験中、試験箱の位置は遮蔽された開口が急速な気流の影響を受けないようにしなければならない。

D.5おんどそくてい

試験箱内の平均周囲温度とは、最近の試験箱内壁から75 mm以上離れており、安定器の中心と同水平面にある各部位での温度をいう。

この温度は通常、ガラス温度計を用いて測定される。他の使用可能な温度測定装置は、熱放射線を遮蔽することができる金属片に付着した熱電対または「サーミスタ」である。

ランプの制御装置ハウジングの温度は通常熱電対で測定される。連続して3回測定して得られた温度示度に変化がない場合、この温度は一定不変と見なされ、各測定の間隔は完成した試験時間の10%であるが、5 min未満ではない。